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產(chǎn)品中心專用儀器儀表DP-ED400渦流測(cè)厚儀
渦流測(cè)厚儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
product
產(chǎn)品分類渦流測(cè)厚儀 型號(hào):DP-ED400
DP-ED400型渦流測(cè)厚儀是DP-ED300型測(cè)厚儀的改型，儀器性能大幅度提。
儀器適于測(cè)量各種非磁性金屬基體上緣性覆蓋層的厚度。主要用于測(cè)量鋁合金型材表面的陽氧化膜或涂層厚度，還可用于測(cè)量其它鋁材料、鋁件表面的陽氧化膜或涂層厚度，以及其他有色金屬材料上緣性覆蓋層的厚度，測(cè)量塑料薄膜及紙張厚度。
儀器適于在現(xiàn)場(chǎng)、銷售現(xiàn)場(chǎng)或施現(xiàn)場(chǎng)對(duì)產(chǎn)品行快速、無損的膜厚檢查， 可用于檢驗(yàn)、驗(yàn)收檢驗(yàn)和質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)。
儀器符合家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4957-2003 《非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量渦流法》。
儀器特點(diǎn)
DP-ED400型與DP-ED300型相比，具有如下特點(diǎn)：
＊量程寬 DP-ED400型的量程達(dá)到0～500μm。
＊度 DP-ED400型的測(cè)量度達(dá)到2%。
＊分辨率 DP-ED400型的分辨率達(dá)到0.1μm。
＊校正簡(jiǎn)便 只校正“0”和“50μm”兩點(diǎn)，即可在量程范圍內(nèi)保證度。
＊基體導(dǎo)電率影響小 基體材料從純鋁變化到各種鋁合金、紫銅、黃銅時(shí)，測(cè)量
誤差不大于1～2μm。
＊可靠性提 采用集成度、穩(wěn)定性電子器件，電路結(jié)構(gòu)優(yōu)化，儀器可靠性
提。
＊穩(wěn)定性提 采用的溫度補(bǔ)償，測(cè)量值隨環(huán)境溫度的變化很小。儀器
校正次可在現(xiàn)場(chǎng)長(zhǎng)期使用。
＊探頭線壽命長(zhǎng) 采用德口的，在德測(cè)厚儀上使用的探頭線，探頭線壽命
可大大延長(zhǎng)。
＊探頭芯壽命長(zhǎng) 采用強(qiáng)度磁芯材料，微調(diào)了探頭，探頭芯壽命可大大延
長(zhǎng)。
＊探頭可互換 外接式探頭，探頭損壞后，使用者可自行更換備用探頭。儀器無
需返廠維修。
測(cè)量范圍： 0～500μm
測(cè)量度： 0～50μm：±1μm；
50～500μm：±2%
分 辨 率： 0～50μm：0.1μm、
50～500μm：1μm；
0～500μm：1μm（可選）
使用溫度： 5～45℃
外形尺寸： 150mm×80mm×30mm
重 量： 260g
2.
鐵基涂層測(cè)厚儀/鐵基涂層測(cè)厚計(jì)/涂層測(cè)厚儀 型號(hào)：DP-8820
鐵基涂層測(cè)厚儀簡(jiǎn)介
產(chǎn)品型號(hào):DP-8820
能: 測(cè)量鐵磁性金屬基體上的非導(dǎo)磁涂層的厚度
測(cè)量范圍: 0～2000um
分辨率: 0.1 um （小于100um）
1 um （大于100um）
zui薄基底：0.3mm
公制/英制：可選擇
電池電壓示：低電壓提示
自動(dòng)關(guān)機(jī)
使用環(huán)境：溫度：0-40℃ 濕度：10-90%RH
準(zhǔn)確度: ±5%n 或 ±5um
電源: 4節(jié)5號(hào)電池
外形尺寸: 161x69x32 mm
重量：210g（不含電池）
！測(cè)量范圍可選：0-200um to15000um
鐵基涂層測(cè)厚儀應(yīng)用:測(cè)量鋼、鐵等磁性金屬基體上的非鐵磁性涂層、鍍層，例如：漆、粉末、塑料、橡膠、合成材料、磷化層、鉻、鋅、鉛、鋁、錫、鎘、瓷、琺瑯、氧化層等。
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北京亞歐德鵬科有限公司
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